Imagerie micronique à l'aide de lentilles à zones de FresnelP. Troussel, M. Pichet, J. M. Dalmasso, M. Idir, T. Jalinaud, M. Ollivier, J. P. Le Breton and R. SauneufAnn. Phys. Fr., 22 (1997) C1-153-C1-154DOI: https://doi.org/10.1051/anphys/1997034
