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Ann. Phys. Fr.
Volume 17, juin 1992
UVX 1992 - 1er Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X - Applications et développements récents
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Page(s) | 195 - 196 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/anphys/1992040 | |
Published online | 01 June 2004 |
Ann. Phys. Fr., Vol. 17, C1 juin 1992, pp. 195-196
Mesure de l'indice de réfraction par interférométrie en X mous
IOTA, LURE, CNRS, Bât. 503, 91403 Orsay Cedex, France
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© EDP Sciences, 1992
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